M.Sc. Maximilian Becker

  • Karlsruher Institut für Technologie – KIT
    Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES)
    Prof. Dr.- Ing. Jürgen Beyerer
    c/o Technologiefabrik
    Haid-und-Neu-Str. 7
    76131 Karlsruhe

Lebenslauf

Maximilian Becker studierte von 2013 bis 2020 Informatik am Karlsruher Institut für Technologie (KIT). In seiner Masterarbeit beschäftigte er sich mit dem Thema der Erklärbarkeit von KI Systemen. Seit 2021 ist er als Doktorand am Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES) angestellt. Dort untersucht er in Zusammenarbeit mit dem Fraunhofer Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB) die Erklärbarkeit und Vertrauenswürdigkeit von KI Systemen unter Privacy-Gesichtspunkten.

Veröffentlichungen


2023
Counterfactual Root Cause Analysis via Anomaly Detection and Causal Graphs
Rehak, J.; Sommer, A.; Becker, M.; Pfrommer, J.; Beyerer, J.
2023. 2023 IEEE 21st International Conference on Industrial Informatics (INDIN), Lemgo, Germany, 17-20 July 2023, 1–7, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/INDIN51400.2023.10218245
RIXA - Explaining Artificial Intelligence in Natural Language
Becker, M.; Schwall, F.; Vishwesh, V.; Wu, S.; Birnstill, P.; Beyerer, J.
2023. doi:10.5445/IR/1000167428
Personalized Explanations
Becker, M.
2023. Proceedings of the 2022 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 1–10, KIT Scientific Publishing
2022
Trustworthy Artificial Intelligence
Becker, M.
2022. Proceedings of the 2021 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory, 21–32, Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2021
A Step Towards Global Counterfactual Explanations: Approximating the Feature Space Through Hierarchical Division and Graph Search
Becker, M.; Burkart, N.; Birnstill, P.; Beyerer, J.
2021. Advances in Artificial Intelligence and Machine Learning, 1 (2), 90–110. doi:10.54364/aaiml.2021.1107
Secure and privacy-respecting documentation for interactive manufacturing and quality assurance
Wagner, P. G.; Lengenfelder, C.; Holzbach, G.; Becker, M.; Birnstill, P.; Voit, M.; Bejhad, A.; Samorei, T.; Beyerer, J.
2021. Applied Sciences (Switzerland), 11 (16), Art.-Nr.: 7339. doi:10.3390/app11167339