Zeyun Zhong, M.Sc.
Karlsruher Institut für Technologie – KIT
Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR)
Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES)
Prof. Dr.- Ing. Jürgen Beyerer
Vincenz-Prießnitz-Straße 3
76131 Karlsruhe
Lebenslauf
Zeyun Zhong studierte von 2014 bis 2018 Verfahrens-, Energie- und Umwelttechnik an der Hochschule Hannover (B.Eng.) und von 2018 bis 2021 Mechatronik an der Leibniz Universität Hannover (M.Sc.). In seiner Masterarbeit beschäftigte er sich mit der Unsicherheitsschätzung im Bereich Dense Stereo Matching. Seit November 2021 arbeitet er als wissenschaftlicher Mitarbeiter am Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES). In enger Kooperation mit der Abteilung Interaktive Analyse und Diagnose des Fraunhofer IOSB erforscht Herr Zhong die multimodale Aktivitätserkennung in Videos.
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Veröffentlichungen
Wu, C.; Wang, K.; Zhong, Z.; Fu, H.; Zheng, J.; Zhang, J.; Pfrommer, J.; Beyerer, J.
2024. Pattern Recognition – 27th International Conference, ICPR 2024, Kolkata, India, December 1–5, 2024, Proceedings, Part XXVI. Ed.: A. Antonacopoulos, 249–267, Springer Nature Switzerland. doi:10.1007/978-3-031-78395-1_17
Schneider, D.; Keller, M.; Zhong, Z.; Peng, K.; Roitberg, A.; Beyerer, J.; Stiefelhagen, R.
2024. 2024 IEEE International Conference on Robotics and Automation (ICRA), 13038–13045, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/ICRA57147.2024.10611486
Diederichs, F.; Herrmanns, A.; Lerch, D.; Zhong, Z.; Piechnik, D.; Mathis, L.-A.; Xian, B.; Vaupel, N.; Vijayakumar, A.; Cabaroglu, C.; Rausch, J.
2024. HCI in Mobility, Transport, and Automotive Systems. Proceedings. Ed.: H. Krömker. Pt. 1, 3–12, Springer Nature Switzerland
Zhong, Z.
2023. Proceedings of the 2022 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 109–119, KIT Scientific Publishing
Zhong, Z.; Schneider, D.; Voit, M.; Stiefelhagen, R.; Beyerer, J.
2023. 2023 IEEE/CVF Winter Conference on Applications of Computer Vision (WACV), 6057–6066, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/WACV56688.2023.00601