Dr.-Ing. Mathias Ziebarth
- Wissenschaftlicher Mitarbeiter
- Tel.: +49 721 6091-267
- Fax: +49 721 608-45926
- mathias ziebarth ∂does-not-exist.kit edu
Karlsruher Institut für Technologie – KIT
Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme (IES)
Prof. Dr.- Ing. Jürgen Beyerer
c/o Technologiefabrik
Haid-und-Neu-Str. 7
76131 Karlsruhe
Lebenslauf
Mathias Ziebarth studierte von 2004 bis 2011 Informatik am Karlsruher Institut für Technologie. In seiner Diplomarbeit am Lehrstuhl für Interaktive Echtzeitsysteme beschäftigte er sich mit der erkennungsbasierten Segmentierung von gedruckten Zeichen. Aktuell untersucht er Anwendungsmöglichkeiten von Wavelets in der deflektometrischen Oberflächeninspektion. Dabei arbeitet er eng mit der Abteilung Mess-, Regelungs- und Diagnosesysteme des Fraunhofer IOSB sowie der Hochschule Pforzheim zusammen.
Veröffentlichungen
2023
Deflectometry for specular surfaces: an overview
Burke, J.; Pak, A.; Höfer, S.; Ziebarth, M.; Roschani, M.; Beyerer, J.
2023. Advanced Optical Technologies, 12. doi:10.3389/aot.2023.1237687
Burke, J.; Pak, A.; Höfer, S.; Ziebarth, M.; Roschani, M.; Beyerer, J.
2023. Advanced Optical Technologies, 12. doi:10.3389/aot.2023.1237687
2019
Wahrnehmungsgrenzen kleiner Verformungen auf spiegelnden Oberflächen. Dissertation
Ziebarth, M.
2019. KIT Scientific Publishing. doi:10.5445/KSP/1000090271
Ziebarth, M.
2019. KIT Scientific Publishing. doi:10.5445/KSP/1000090271
2018
Modeling the unified measurement uncertainty of deflectometric and plenoptic 3-D sensors
Ziebarth, M.; Zeller, N.; Heizmann, M.; Quint, F.
2018. Journal of sensors and sensor systems, 7 (2), 517–533. doi:10.5194/jsss-7-517-2018
Ziebarth, M.; Zeller, N.; Heizmann, M.; Quint, F.
2018. Journal of sensors and sensor systems, 7 (2), 517–533. doi:10.5194/jsss-7-517-2018
2017
A new FPGA based architecture to improve performance of deflectometry image processing algorithm
Bhatti, F.; Greiner, T.; Heizmann, M.; Ziebarth, M.
2017. 40th International Conference on Telecommunications and Signal Processing (TSP 2017), Barcelona, S, July 5-7, 2017, 559–562, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/TSP.2017.8076049
Bhatti, F.; Greiner, T.; Heizmann, M.; Ziebarth, M.
2017. 40th International Conference on Telecommunications and Signal Processing (TSP 2017), Barcelona, S, July 5-7, 2017, 559–562, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/TSP.2017.8076049
An extended architecture to optimize execution time of 3D image processing deflectometry algorithm using FPGA
Bhatti, F.; Greiner, T.; Heizmann, M.; Ziebarth, M.
2017. Proceedings of the International Conference on Signal and Image Processing Applications, ICSIPA 2017, Kuching, Malaysia, 12th - 14th September 2017, 257–262, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/ICSIPA.2017.8120617
Bhatti, F.; Greiner, T.; Heizmann, M.; Ziebarth, M.
2017. Proceedings of the International Conference on Signal and Image Processing Applications, ICSIPA 2017, Kuching, Malaysia, 12th - 14th September 2017, 257–262, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/ICSIPA.2017.8120617
2016
Systematic design of object shape matched wavelet filter banks for defect detection
Le, T.-T.; Ziebarth, M.; Greiner, T.; Heizmann, M.
2016. 39th International Conference on Telecommunications and Signal Processing (TSP), Vienna, Austria, 27–29 June 2016, 470–473, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/TSP.2016.7760923
Le, T.-T.; Ziebarth, M.; Greiner, T.; Heizmann, M.
2016. 39th International Conference on Telecommunications and Signal Processing (TSP), Vienna, Austria, 27–29 June 2016, 470–473, Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). doi:10.1109/TSP.2016.7760923
Multiskalige Oberflächeninspektion mit Wavelets und Deflektometrie = Multiscale surface inspection using wavelets and deflectometry
Greiner, T.; Le, T.-T.; Ziebarth, M.; Heizmann, M.
2016. Technisches Messen, 83 (11), 617–627. doi:10.1515/teme-2015-0047
Greiner, T.; Le, T.-T.; Ziebarth, M.; Heizmann, M.
2016. Technisches Messen, 83 (11), 617–627. doi:10.1515/teme-2015-0047
2015
Defect perception thresholds on specular surfaces. Technical Report IES-2014-11
Ziebarth, M.
2015. Proceedings of the 2014 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 123–132, KIT Scientific Publishing
Ziebarth, M.
2015. Proceedings of the 2014 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 123–132, KIT Scientific Publishing
2014
Sichtbarkeit von Dellen und Beulen auf spiegelnden Oberflächen
Ziebarth, M.; Heizmann, M.; Beyerer, J.
2014. Forum Bildverarbeitung 2014. Hrsg.: F. Puente León, 153–165, KIT Scientific Publishing
Ziebarth, M.; Heizmann, M.; Beyerer, J.
2014. Forum Bildverarbeitung 2014. Hrsg.: F. Puente León, 153–165, KIT Scientific Publishing
Segmentierung unterschiedlich stark ausgeprägter Welligkeiten auf lackierten Oberflächen
Vogelbacher, M.; Ziebarth, M.; Olawsky, S.; Beyerer, J.
2014. Forum Bildverarbeitung 2014. Hrsg.: F. Puente León, 129–140, KIT Scientific Publishing
Vogelbacher, M.; Ziebarth, M.; Olawsky, S.; Beyerer, J.
2014. Forum Bildverarbeitung 2014. Hrsg.: F. Puente León, 129–140, KIT Scientific Publishing
Segmentierung unterschiedlich stark ausgeprägter Welligkeiten auf lackierten Oberflächen
Vogelbacher, M.; Ziebarth, M.; Olawsky, S.; Beyerer, J.
2014. tm - Technisches Messen, 81 (12), 644–651. doi:10.1515/teme-2014-1055
Vogelbacher, M.; Ziebarth, M.; Olawsky, S.; Beyerer, J.
2014. tm - Technisches Messen, 81 (12), 644–651. doi:10.1515/teme-2014-1055
Empirical Comparison of Defect Classifiers on Specular Surfaces. Technical Report IES-2013-13
Ziebarth, M.
2014. Proceedings of the 2013 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 155–169, KIT Scientific Publishing
Ziebarth, M.
2014. Proceedings of the 2013 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 155–169, KIT Scientific Publishing
2013
Methods for Multiscale Evaluation of Deflectometric Measurements. Technical Report IES-2012-11
Ziebarth, M.
2013. Proceedings of the 2012 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 127–143, KIT Scientific Publishing
Ziebarth, M.
2013. Proceedings of the 2012 Joint Workshop of Fraunhofer IOSB and Institute for Anthropomatics, Vision and Fusion Laboratory. Ed.: J. Beyerer, 127–143, KIT Scientific Publishing
2012
Beurteilung textiler Flächenhalbzeuge mittels variabler Beleuchtung
Vogelbacher, M.; Werling, S.; Ziebarth, M.
2012. Forum Bildverarbeitung 2012. Hrsg.: F. Puente León, 193–204, KIT Scientific Publishing
Vogelbacher, M.; Werling, S.; Ziebarth, M.
2012. Forum Bildverarbeitung 2012. Hrsg.: F. Puente León, 193–204, KIT Scientific Publishing
Inspektion spiegelnder Oberflächen mit Wavelet-basierten Verfahren
Ziebarth, M.; Le, T.-T.; Greiner, T.; Heizmann, M.
2012. Forum Bildverarbeitung 2012. Hrsg. F. Puente León, 167–180, KIT Scientific Publishing
Ziebarth, M.; Le, T.-T.; Greiner, T.; Heizmann, M.
2012. Forum Bildverarbeitung 2012. Hrsg. F. Puente León, 167–180, KIT Scientific Publishing